Krótka analiza zasad i zastosowań DIC w mikroskopach metalograficznych
Kiedy wszyscy prowadzą obserwacje pod mikroskopem metalograficznym, istnieje metoda obserwacji zwana różnicową metodą kontrastu interferencyjnego, zwana także metodą obserwacji DIC. Jest to stosunkowo zaawansowana metoda, która obecnie stosowana jest jedynie w sprzęcie zagranicznych marek. Konkretna zasada jest następująca: Przedstaw to.
Elementy potrzebne do mikroskopu metalograficznego: polaryzator, analizator, chip DIC z interferencją różnicową (wykonany z kamienia lodowcowego).
Polaryzatory i analizatory są niezbędnymi podstawowymi elementami pomocniczymi w obserwacji próbek metalograficznych w świetle ortogonalnym spolaryzowanym. Montowane są w zespole oświetlania pola jasnego/ciemnego i są również niezbędnym elementem metody kontrastu różnicowo-interferencyjnego. Polaryzator mikroskopu metalograficznego zmienia źródło światła na światło spolaryzowane liniowo, które wibruje w kierunku wschód-zachód; analizator może zakłócać światło spójne spełniające warunki interferencyjne.
Płytka różnicowo-interferencyjna DIC mikroskopu metalograficznego jest podstawowym elementem metody kontrastu różnicowo-interferencyjnego. Jego grubość zmienia się nieznacznie, powodując niewielkie zmiany w ścieżce optycznej lub różnicy ścieżek optycznych i daje oczywisty efekt kontrastu interferencyjnego;
Zastosowania różnicowo-interferencyjnych arkuszy DIC w mikroskopach metalograficznych:
Obserwuj cząsteczki, pęknięcia, dziury i wybrzuszenia na powierzchni obiektu, które pojawiają się w formie reliefu, a będziesz mógł dokonać prawidłowej oceny.
Wymagania dotyczące powierzchni niektórych detali są zmniejszone. O ile polerowanie nie wymaga korozji, można zaobserwować ulgę w przemianie fazowej martenzytu.
Obserwuj pewne zmiany cząstek powierzchniowych, takie jak obserwacja jonów przewodzących itp.
Wierzę, że dzięki powyższemu wyjaśnieniu każdy ma pewne zrozumienie zasady i zastosowania różnicowo-interferencyjnych arkuszy DIC w mikroskopach metalograficznych.
