Zastosowanie mikroskopu w podczerwieni w małych urządzeniach w przemyśle elektronicznym
Wraz z rozwojem nanotechnologii jego odgórne podejście do miniaturyzacji jest coraz częściej stosowane w dziedzinie technologii półprzewodników. Kiedyś nazywaliśmy technologią IC „mikroelektroniką”, ponieważ rozmiar tranzystorów znajduje się w zakresie mikrometru (10-6). Ale technologia półprzewodnikowa rozwija się bardzo szybko, rozwijając się o pokolenie co dwa lata, a rozmiar zmniejszy się do połowy jego pierwotnej wielkości, co jest słynnym prawem Moore'a. Około 15 lat temu półprzewodniki zaczęły wchodzić do epoki sub -mikronów, która jest mniejsza niż mikrometry, a następnie głębsza epoka sub -mikronów, znacznie mniejsza niż mikrometry. Na 2 0 01 wielkość tranzystorów zmniejszyła się nawet do mniej niż 0,1 mikrometrów, czyli mniej niż 100 nanometrów. Dlatego w erze nanoelektroniki większość przyszłych IC zostanie wykonana przy użyciu nanotechnologii.
Wymagania techniczne:
Obecnie główną formą awarii urządzenia elektronicznego jest awaria termiczna. Według statystyk 55% awarii urządzeń elektronicznych jest spowodowane temperaturą przekraczającą określoną wartość, a szybkość awarii urządzeń elektronicznych wzrasta wykładniczo wraz ze wzrostem temperatury. Ogólnie rzecz biorąc, niezawodność operacyjna komponentów elektronicznych jest wysoce wrażliwa na temperaturę, przy 5% spadku niezawodności dla każdego 1 stopnia wzrostu temperatury urządzenia między stopniami 70-80 Celsjusza. Dlatego konieczne jest szybkie i niezawodne wykrywanie temperatury urządzenia. Ze względu na coraz mniejszy rozmiar urządzeń półprzewodnikowych, wyższe wymagania zostały ustalone na rozdzielczość temperatury i rozdzielczość przestrzenną sprzętu do wykrywania.
