Mikroskop sił atomowych i jego zastosowanie
Mikroskop sił atomowych to mikroskop z sondą skanującą opracowany na podstawie podstawowej zasady skaningowego mikroskopu tunelowego. Pojawienie się mikroskopu sił atomowych niewątpliwie odegrało rolę w promowaniu rozwoju nanotechnologii. Mikroskop z sondą skanującą reprezentowany przez mikroskop sił atomowych to ogólne określenie serii mikroskopów, które wykorzystują małą sondę do skanowania powierzchni próbki w celu zapewnienia obserwacji w dużym powiększeniu. Skanowanie AFM może dostarczyć informacji o stanie powierzchni różnych typów próbek. W porównaniu z konwencjonalnymi mikroskopami, zaletą mikroskopii sił atomowych jest to, że umożliwia ona obserwację powierzchni próbki przy dużym powiększeniu w warunkach atmosferycznych i może być stosowana do prawie wszystkich próbek (z pewnymi wymaganiami dotyczącymi wykończenia powierzchni), a powierzchnia próbki może być uzyskane bez innego przygotowania próbki. Obraz 3D . Może również wykonywać obliczenia chropowatości, grubości, szerokości kroku, schematu blokowego lub analizy wielkości cząstek na zeskanowanym obrazie topografii 3D.
AFM może wykrywać wiele próbek i dostarczać danych do badań powierzchni i kontroli produkcji lub opracowywania procesów, których nie mogą zapewnić konwencjonalne skanujące mierniki chropowatości powierzchni i mikroskopy elektronowe.
Cechy mikroskopii sił atomowych
1. Możliwości wysokiej rozdzielczości znacznie przewyższają możliwości skaningowych mikroskopów elektronowych (SEM) i optycznych mierników chropowatości. Trójwymiarowe dane powierzchni próbki spełniają coraz bardziej mikroskopijne wymagania badań, produkcji i kontroli jakości.
2. Nieniszcząca, siła interakcji między sondą a powierzchnią próbki jest mniejsza niż 10-8 N, co jest znacznie niższe niż nacisk poprzedniego miernika chropowatości trzpienia, więc nie uszkodzi próbki i tam nie ma problemu uszkodzenia wiązki elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym. Ponadto skaningowa mikroskopia elektronowa wymaga powlekania próbek nieprzewodzących, podczas gdy mikroskopia sił atomowych tego nie wymaga.
3. Może być stosowany w szerokim zakresie zastosowań, takich jak obserwacja powierzchni, pomiar wielkości, pomiar chropowatości powierzchni, analiza wielkości cząstek, statystyczne przetwarzanie wypukłości i wgłębień, ocena warunków tworzenia się filmu, pomiar stopni wielkości warstwy ochronnej, płaskość ocena międzywarstwowych folii izolacyjnych, ocena VCD Coating, ocena procesu obróbki ciernej folii orientowanej, analiza defektów itp.
4. Oprogramowanie ma silne funkcje przetwarzania, a jego trójwymiarowy rozmiar wyświetlania obrazu, kąt widzenia, kolor wyświetlacza i połysk można dowolnie ustawić. I może wybrać sieć, linię konturową, wyświetlanie linii. Makrozarządzanie przetwarzaniem obrazu, analiza kształtu i chropowatości przekroju poprzecznego, analiza topografii i inne funkcje.
