Jak używać multimetru do testowania układów pamięci
Na płycie głównej i w pamięci znajdują się 64 styki danych, D0-D63. Aby chronić styki danych pamięci, do wszystkich 64 styków danych D0-D63 dodawany jest rezystor (10 omów) o różnej wartości rezystancji, aby ograniczyć prąd. Główną zasadą testera jest wielokrotne testowanie każdego pinu bitu danych układu pamięci za pomocą programu w celu sprawdzenia, czy nie ma uszkodzonych lub zwartych pinów bitów danych, a także pinów zegara i pinów adresu chipa.
Jeśli więc do testowania chipa używasz multimetru, do jego pomiaru można również użyć testera. Dopóki czerwony długopis jest podłączony do masy (1 pin), a czarny długopis służy do pomiaru rezystancji ujemnej rezystancji, to wartość rezystancji bitu danych układu pamięci pozwala określić, który układ jest uszkodzony. Zwykle wartość rezystancji każdego bitu danych jest taka sama. Ale nadal nie jest tak intuicyjny jak tester, a tą metodą można zmierzyć jakość układów pamięci DDR.
Według instrukcji obsługi zmierzona pamięć to 2A i 2B, co oznacza grupę pojedynczą i grupę podwójną. Istnieją jednak elementy bitowe 8 16, które odpowiadają dwóm zestawom, oraz elementy 16 8--bitowe, które również odpowiadają dwóm zestawom.
2A to pierwsza grupa, a 2B to druga grupa.
Podczas pomiaru piny danych każdego chipa w każdej grupie będą cyklicznie testowane. Ogólnie rzecz biorąc, jest dobrze, jeśli zostało przetestowane 3-5 razy bez żadnych uszkodzeń. Dobry chip to PASS. Wadliwy układ wyświetla wadliwe piny bitów danych.
1. Nie można wykonać testu skoku przy uruchomieniu, zwykle obejmującego zwarcie chipa i zwarcie płytki PCB. Rozwiązaniem jest usunięcie chipa i zastąpienie go dobrą płytką PCB, aby przetestować jakość chipa i zobaczyć, na czym polega problem.
2. Tester pamięci nie testuje układów SPD, układy SPD są opcjonalne
3. Jeśli złoty palec się pali, nie można go przetestować. Aby sprawdzić jego jakość, należy wyjąć chip i zastąpić go dobrą płytką drukowaną
