Rozwiązuj problemy EMI w dziedzinie czasu i częstotliwości za pomocą oscyloskopów cyfrowych RTO
Oscyloskopy cyfrowe RTO mogą pomóc inżynierom ds. rozwoju analizować problemy EMI w dziedzinie czasu i częstotliwości podczas projektowania elektroniki, a także mogą pomóc w zlokalizowaniu przyczyn zakłóceń elektromagnetycznych. Oscyloskop cyfrowy RTO charakteryzuje się wyjątkowo niskim poziomem szumów wejściowych, a jego czułość może osiągnąć 1 mv/dz w pełnym zakresie pasma 0-4 GHz. Możliwość analizy widma FFT w czasie rzeczywistym firmy RTO może zostać wykorzystana w połączeniu z analizą sond bliskiego pola do diagnozowania problemów związanych z zakłóceniami elektromagnetycznymi.
Rys.: Oscyloskop cyfrowy R&S RTO – niskoszumowy moduł front-end/wysokowydajny FFT tworzy potężne narzędzie diagnostyczne EMI
Kluczem do diagnostyki EMI jest technologia FFT. Dzięki funkcji FFT tradycyjnych oscyloskopów ustawienie parametrów w dziedzinie częstotliwości jest trudne, a analiza widma zajmuje dużo czasu. Ponieważ interfejs operacyjny FFT oscyloskopu R&S RTO opiera się na analizatorze widma, użytkownicy mogą bezpośrednio ustawiać parametry, w tym częstotliwość początkową, częstotliwość odcięcia, rozdzielczość pasma i typ detektora, podobnie jak przy użyciu analizatora widma.
Wydajna technologia FFT w połączeniu z dużą pojemnością pamięci oscyloskopu RTO pozwala użytkownikom na niezależne ustawianie parametrów w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz elastycznie przeprowadzać analizy w dziedzinie czasu i częstotliwości. Funkcje te pozwalają użytkownikom wykryć źródła emitowanych zakłóceń tak szybko, jak to możliwe.
Oscyloskop R&S RTO wykorzystuje funkcję Overlap FFT do analizy w dziedzinie częstotliwości. Nakładająca się technologia FFT pozwala uzyskać wysoką czułość na fałszywe promieniowanie i wychwytywać sporadycznie fałszywe punkty częstotliwości. Oscyloskop najpierw dzieli przechwycony sygnał w dziedzinie czasu na kilka segmentów czasowych, a następnie wykonuje obliczenia FFT w celu uzyskania widma każdego segmentu czasowego, tak aby w widmie można było uchwycić sporadyczne sygnały fałszywe o niskiej energii.
Następnie sygnały o różnych częstotliwościach są oznaczane różnymi kolorami, a widmo analizy FFT ze wszystkich okresów czasu jest łączone w pełne widmo.
Promieniowanie i promieniowanie przypadkowe są oznaczone różnymi kolorami. Analiza widma przy użyciu różnych technik znakowania kolorami może doskonale wykazać rodzaj i częstotliwość promieniowania EMI.
Technologia okienkowa FFT pozwala użytkownikom dostosować okno czasowe dla przechwyconego sygnału, przeprowadzić analizę FFT tylko sygnału w oknie czasowym i analizować odpowiednią relację pomiędzy każdym sygnałem w domenie czasowej a widmem poprzez przesuwanie tego okna. Technikę tę można na przykład zastosować do analizy problemów z zakłóceniami elektromagnetycznymi spowodowanymi przeregulowaniem tranzystorów w zasilaczach impulsowych. Po potwierdzeniu problemu użytkownik może szybko sprawdzić efekt naprawy.
Narzędzia szablonowe są również bardzo skuteczne podczas analizowania problemów z promieniowaniem błądzącym. Użytkownicy definiują szablony w dziedzinie częstotliwości i dokonują odpowiednich ustawień dla sygnałów naruszających, dzięki czemu mogą dokładnie określić, które sygnały powodują naruszenia widma. Nawet w przypadku przechwyconych sygnałów użytkownicy mogą dostosować parametry FFT, takie jak rozmiar okna i rozdzielczość częstotliwości. Tak potężne funkcje pozwalają użytkownikom przeprowadzić dokładną analizę promieniowania EMI, które jest trudne do uchwycenia.
Oscyloskop R&S RTO wyznacza nowy standard dla oscyloskopów dzięki bogatym funkcjom akwizycji i analizy. Jednocześnie w połączeniu z szeroką gamą akcesoriów, takich jak sonda bliskiego pola R&S HZ-15, zapewnia kompletny zestaw rozwiązań do diagnostyki EMI.
