Różnica między zastosowaniem pionowego mikroskopu metalograficznego i odwróconego mikroskopu metalograficznego
Różnica między zastosowaniem pionowego mikroskopu metalograficznego i odwróconego mikroskopu metalograficznego
Różnica między pionową a odwróconą polega po prostu na tym, że pionowa próbka jest umieszczona poniżej, a odwrócona próbka jest umieszczona powyżej. Pionowe cele skierowane w dół, odwrócone cele skierowane w górę.
Odwrócony mikroskop metalurgiczny, ponieważ powierzchnia obserwacyjna próbki pokrywa się z powierzchnią stołu warsztatowego w dół, soczewka obiektywu obserwacyjnego znajduje się pod stołem warsztatowym i obserwowana jest w górę, ta forma obserwacji nie jest ograniczona wysokością próbki, o ile jeden powierzchnia obserwacyjna jest płaska podczas przygotowywania próbki, dlatego jest szeroko stosowana w laboratoriach fabrycznych, instytucjach naukowo-badawczych i na uczelniach. Podstawa odwróconego mikroskopu metalograficznego ma dużą powierzchnię podparcia, nisko położony środek ciężkości, stabilną i niezawodną pracę, a okular i powierzchnia podparcia są nachylone pod kątem 45 stopni, co zapewnia komfort obserwacji.
Pionowy mikroskop metalograficzny ma te same podstawowe funkcje, co odwrócony mikroskop metalograficzny, z wyjątkiem analizy i identyfikacji próbek metali o wysokości 20-30 mm, ponieważ jest zgodny z codziennymi nawykami ludzi, jest szerzej stosowany w przezroczystych , półprzezroczysta lub nieprzezroczysta substancja. Pionowy mikroskop metalurgiczny tworzy pozytywny obraz podczas obserwacji, co zapewnia dużą wygodę obserwacji i identyfikacji użytkownika. Oprócz analizy i identyfikacji próbek metali o wysokości 20-30mm, obserwacja obiektów większych niż 3 mikrony i mniejszych niż 20 mikronów, takich jak cermetale, chipy elektroniczne, obwody drukowane, podłoża LCD, folie, włókna, ziarniste przedmioty, powłoki i inne materiały na powierzchni Struktura i ślady mogą mieć dobry efekt obrazowania.
