Transmisja i epi-oświetlenie mikroskopów do instrumentów do analizy metalograficznej
Metody oświetlania mikroskopów do instrumentów do analizy metalograficznej dzieli się ogólnie na dwie kategorie: „oświetlenie przepuszczalne” i „oświetlenie episkopowe”. Ten pierwszy nadaje się do obiektów przezroczystych lub półprzezroczystych i większość mikroskopów biologicznych należy do tego typu metody oświetlenia; ten ostatni nadaje się do obiektów nieprzezroczystych, a źródło światła pochodzi z góry, zwane także „oświetleniem odblaskowym”. Główne zastosowania mikroskopii metalograficznej lub mikroskopii fluorescencyjnej.
1. Trans-iluminacja
Mikroskopy biologiczne są najczęściej używane do obserwacji przezroczystych próbek i wymagają oświetlenia światłem przechodzącym. Istnieją dwie metody oświetlenia
(1) Oświetlenie krytyczne Po przejściu źródła światła przez kondensator jest ono obrazowane na płaszczyźnie obiektu, jak pokazano na rysunku 5. Jeśli pominiemy utratę energii świetlnej, jasność obrazu źródła światła będzie taka sama jak światło samego źródła światła, zatem metoda ta jest równoznaczna z umieszczeniem źródła światła na płaszczyźnie obiektu. Oczywiście w oświetleniu krytycznym, jeśli jasność powierzchni źródła światła nie jest jednolita lub wyraźnie pokazuje małe struktury, takie jak włókna itp., wówczas efekt obserwacji mikroskopu będzie poważnie zakłócony, co jest wadą krytyczne oświetlenie. Rozwiązaniem jest umieszczenie przed źródłem światła mlecznobiałych i pochłaniających ciepło filtrów barwnych, aby oświetlenie było bardziej równomierne i aby uniknąć uszkodzenia kontrolowanego obiektu na skutek długotrwałego naświetlania źródła światła. Przy oświetleniu światłem przechodzącym kąt apertury wiązki obrazującej soczewki obiektywu jest określony przez kąt apertury kwadratowej wiązki zwierciadła kondensorowego. Aby w pełni wykorzystać aperturę numeryczną obiektywu, soczewka kondensorowa powinna mieć tę samą lub nieco większą aperturę numeryczną co obiektyw.
(2) Oświetlenie Kola W oświetleniu Kola można wyeliminować wadę nierównomiernego oświetlenia powierzchni obiektu w oświetleniu krytycznym. Pomocnicza soczewka kondensora 2 jest dodawana pomiędzy źródłem światła 1 a soczewką kondensora 5, jak pokazano na FIG. 6. Można zauważyć, że pole widzenia (próbka) obiektywu jest oświetlone równomiernie, ponieważ źródło światła nie jest oświetlane bezpośrednio, ale kondensor pomocniczy 2 (zwany także zwierciadłem Kolara) równomiernie oświetlony przez źródło światła jest obrazowany na egzemplarz 6.
2. epi-iluminacja
Podczas obserwacji obiektów nieprzezroczystych, np. obserwacji metalowych tarcz szlifierskich przez mikroskop metalograficzny, często jest on oświetlany z boku lub z góry. W tym momencie na powierzchni obserwowanego obiektu nie ma szkła nakrywkowego, a obraz próbki jest generowany przez odbite lub rozproszone światło wpadające do soczewki obiektywu.
3. Metoda oświetlania obserwacji cząstek przy użyciu ciemnego pola
Ultramikroskopowe cząstki można obserwować metodą ciemnego pola. Tak zwane cząstki ultramikroskopowe odnoszą się do tych maleńkich cząstek, które są mniejsze niż granica rozdzielczości mikroskopu. Zasada oświetlenia ciemnego pola jest następująca: nie pozwól, aby główne światło oświetlające dostało się do soczewki obiektywu, a jedynie światło rozproszone przez cząsteczki może przedostać się do soczewki obiektywu w celu obrazowania. Dlatego obraz jasnych cząstek jest podany na ciemnym tle. Chociaż tło pola widzenia jest ciemne, kontrast (kontrast) jest bardzo dobry, co może poprawić rozdzielczość.
Oświetlenie ciemnego pola można podzielić na jednokierunkowe i dwukierunkowe
(1) Jednokierunkowe oświetlenie ciemnego pola. Rysunek 8 to schematyczny diagram jednokierunkowego oświetlenia ciemnego pola. Z rysunku widać, że po odbiciu światła emitowanego przez oświetlacz 2 przez nieprzezroczystą płytkę próbną 1, światło główne nie dociera do soczewki obiektywu 3, a światło wpadające do soczewki obiektywu jest głównie rozproszone przez cząstki lub nierówne Detale. Oczywiście to jednokierunkowe oświetlenie ciemnego pola jest skuteczne przy obserwacji istnienia i ruchu cząstek, ale nie jest skuteczne przy odtwarzaniu szczegółów obiektów, czyli występuje zjawisko „zniekształcenia”.
(2) Dwukierunkowe oświetlenie ciemnego pola Dwukierunkowe oświetlenie ciemnego pola może wyeliminować defekt zniekształcenia powodowany przez jednokierunkowe. Przed typowym trójsoczewkowym kondensorem umieść pierścieniową przysłonę, jak pokazano na rysunku 9, aby uzyskać dwukierunkowe oświetlenie ciemnego pola. Ciecz zanurza się pomiędzy ostatnią częścią kondensora a obiektywem, przy czym przestrzeń pomiędzy szkiełkiem nakrywkowym a obiektywem jest sucha. Dlatego przyrząd do analizy metalograficznej jest wyposażony w transmisję i oświetlenie typu epi mikroskopu, a wiązka pierścieniowa przechodząca przez kondensor jest całkowicie odbijana w szkle nakrywkowym i nie może dostać się do soczewki obiektywu, tworząc obwód, jak pokazano na rysunku . Tylko światło rozproszone przez cząstki próbki dociera do soczewki obiektywu, tworząc dwukierunkowe oświetlenie ciemnego pola. W przypadku innych powiązanych przyrządów, takich jak analizator stopionego żelaza, analizator węglowo-krzemowy itp., należy skontaktować się z Działem Technologii Tongpu.
