Sprzężenie AFM i odwróconej mikroskopii optycznej
Odwrócona mikroskopia optyczna w połączeniu z obrazowaniem AFM oferuje wyjątkową możliwość połączenia danych optycznych (np. stosunków względnych lub danych fluorescencji) z obrazami morfologicznymi o wysokiej rozdzielczości i danymi mechanicznymi, które może zapewnić tylko AFM.
Dzięki otwartej strukturze ścieżki optycznej FlexAFM światło może przechodzić przez FlexAFM praktycznie bez przeszkód, a specjalna konstrukcja optyczna SureAlign™ wspornikowego uchwytu SA sprawia, że obsługa FlexAFM w płynnych środowiskach testowych jest prosta i łatwa, bez konieczności stosowania lasera wyrównanie. W połączeniu z opcją odwróconego mikroskopu świetlnego FlexAFM staje się idealnym urządzeniem do obrazowania i charakteryzowania komórek w środowisku fizjologicznym. W tym przykładzie zobrazowano żywe fibroblasty szczura-2.
Zastosowania FlexAFM w połączeniu z odwróconym mikroskopem świetlnym z pewnością nie ograniczają się do nauk przyrodniczych. Poniżej przedstawiono próbki, przy czym próbki szkła powlekanego są analizowane zarówno za pomocą mikroskopii optycznej, jak i AFM. AFM dostarcza danych o wyższej rozdzielczości na temat obserwowanego obszaru i wyjaśnia naturę struktur widocznych w mikroskopie optycznym. Może być również stosowany do określania grubości powłok.
Obrazy komórek PiD: (po lewej) Względny obraz porównawczy mikroskopii w świetle odwróconym za pomocą urządzenia FlexAFM i opcji mikroskopii w świetle odwróconym, przedstawiający żywe komórki fibroprogenitorowe szczura-2 i wiszące ramię AFM w pożywce do hodowli komórkowej. (Po prawej) Obraz AFM komórek wykonanych z tego samego urządzenia, pokazujący szczegóły cytoszkieletu szczura-2, który jest łatwo dostrzegalny na błonie komórkowej tych komórek. Rozmiar obrazu AFM: 70 μm × 60 μm.
Względny stosunek szkła powlekanego (na górze) i obrazu AFM (na dole). W mikroskopie optycznym obserwuje się struktury o podobnej teksturze (np. owalne wnętrza) odpowiadające otworom w powłoce, czego przykładem są pomiary AFM. Podają ** metodę określania grubości powłoki, która w tym przykładzie wynosi 40 nm. Rozmiar obrazu AFM: 90 μm × 35 μm.
