Różnice w zastosowaniu mikroskopów metalograficznych stojących i odwróconych
Różnica między próbką pionową a odwróconą polega po prostu na tym, że próbkę pionową umieszcza się poniżej, a próbkę odwróconą umieszcza się powyżej. Obiektyw pionowy jest skierowany w dół, a obiektyw odwrócony jest skierowany w górę.
Odwrócony mikroskop metalograficzny, dzięki temu, że powierzchnia obserwacyjna próbki pokrywa się z powierzchnią stołu warsztatowego, a cel obserwacji znajduje się poniżej stołu warsztatowego do obserwacji od góry, ta forma obserwacji nie jest ograniczona wysokością próbki. Podczas przygotowywania próbki tylko jedna powierzchnia obserwacyjna jest płaska, dlatego jest powszechnie stosowana w laboratoriach fabrycznych, instytucjach naukowo-badawczych i na uniwersytetach w celach dydaktycznych. Podstawa odwróconego mikroskopu metalograficznego ma dużą powierzchnię podparcia, nisko położony środek ciężkości oraz jest stabilna i niezawodna. Okular i powierzchnia nośna są nachylone pod kątem 45 stopni, co zapewnia wygodę obserwacji.
Pionowy mikroskop metalograficzny ma te same podstawowe funkcje, co odwrócony mikroskop metalograficzny. Oprócz analizy i identyfikacji próbek metali o wysokości 20-30 mm jest on szerzej stosowany w materiałach przezroczystych, półprzezroczystych lub nieprzezroczystych, ponieważ jest zgodny z codziennymi nawykami człowieka. Pionowy mikroskop metalograficzny tworzy pozytywny obraz podczas obserwacji, co zapewnia użytkownikowi dużą wygodę obserwacji i rozróżniania. Oprócz analizy i identyfikacji próbek metali o wysokości 20-30mm, obserwacje obiektów o średnicy większej niż 3 mikrony, ale mniejszej niż 20 mikronów, takie jak struktura powierzchni i ślady materiałów, takie jak cermetale, chipy elektroniczne, obwody drukowane, Podłoża LCD, cienkie folie, włókna, obiekty ziarniste, powłoki itp. mogą zapewniać dobre efekty obrazowania.
