Zasady i metody mikrometrii konfokalnej
Mikroskopia konfokalna to skrót od Laser Confocal Scanning Microscope LCSM, który umożliwia obrazowanie mikroskopowe przy użyciu głównie technik obrazowania przechwytywanego 3D, co zapewnia wysoką rozdzielczość obrazu 3D. Osiąga się to poprzez konstruowanie mikrofotografii.
Zasady obrazowania za pomocą mikroskopu konfokalnego
Mikroskop konfokalny umieszcza się na powierzchni sprzężonej płaszczyzny ogniskowej mierzonego obiektu dwa małe otwory, z których jeden znajduje się przed źródłem światła, a drugi przed detektorem, uzyskany obraz jest światłem pochodzącym z jednego płaszczyzna ogniskowa jest rejestrowana poprzez ogniskowanie za pomocą cyfrowego aparatu otworkowego, a poprzez zgromadzoną sekwencję obrazów różnych płaszczyzn ogniskowych, za pomocą oprogramowania tworzony jest kompletny obraz 3D.
System mikroskopu konfokalnego prezentuje powiększone obrazy z większą szczegółowością niż konwencjonalne mikroskopy optyczne. Przy tym samym obiektywnym powiększeniu mikroskop konfokalny przedstawia obrazy z ostrzejszymi i drobniejszymi szczegółami morfologicznymi oraz wyższą rozdzielczością boczną. Jako narzędzie do wykrywania mikronano, mikroskopia konfokalna różni się pod wieloma względami od interferometrii światła białego. Jeśli użyjesz słowa, aby to opisać, interferometria światła białego jest „literacka”, podczas gdy mikroskopia konfokalna jest „wojskowa”. Białe światło jest dobre w ultragładkim wykrywaniu powierzchni poniżej nanometra, w dążeniu do dokładności wartości wykrywania; podczas gdy konfokalny jest dobry w wykrywaniu szorstkich konturów w mikronanometrach, chociaż w wykrywaniu rozdzielczość jest nieco gorsza, ale może zapewnić kolorowe obrazy w prawdziwych kolorach dla łatwej obserwacji.
Mikroskop konfokalny oparty na technologii konfokalnej jako zasadzie, w połączeniu z precyzyjnym modułem skanującym Z, algorytmami modelowania 3D itp., może mierzyć wszelkiego rodzaju powierzchnie obiektu, w tym od gładkiej do szorstkiej, o niskim współczynniku odbicia do wysokiego współczynnika odbicia, od nano do mikronów poziom chropowatości przedmiotu obrabianego, płaskości, konturów mikrogeometrycznych, krzywizny i innych parametrów różnorodnych produktów, komponentów i materiałów powierzchni konturów powierzchni, wad powierzchni, zużycia, warunków korozyjnych, Pomiar i analiza cech powierzchni, takich jak płaskość , chropowatość, pofałdowanie, prześwit porów, wysokość stopnia, odkształcenie zginające, obróbka skrawaniem i inne cechy powierzchni.
