Struktura systemu mikroskopii sił atomowych (AFM).
1. Sekcja wykrywania siły:
W systemie mikroskopii sił atomowych (AFM) wykrywaną siłą jest siła van der Waalsa między atomami. Zatem w tym systemie do wykrywania zmian siły między atomami używany jest wspornik. Ten mikrowspornik ma określone specyfikacje, takie jak długość, szerokość, współczynnik elastyczności i kształt końcówki igły, a wybór tych specyfikacji opiera się na charakterystyce próbki i różnych trybach pracy, a także wybierane są różne typy sond.
2 Sekcja wykrywania pozycji:
W systemie mikroskopii sił atomowych (AFM), gdy nastąpi interakcja pomiędzy końcówką igły a próbką, wspornik wspornika będzie się kołysał. Dlatego też, gdy laser zostanie naświetlony na końcu wspornika, położenie odbitego światła również ulegnie zmianie w wyniku odchylenia wspornika, co spowoduje wygenerowanie przesunięcia. W całym systemie laserowy detektor położenia plamki służy do rejestracji przesunięcia i przetwarzania go na sygnał elektryczny do przetwarzania sygnału przez sterownik SPM.
3 System informacji zwrotnej:
W systemie mikroskopu sił atomowych (AFM) sygnał po odebraniu przez detektor laserowy jest wykorzystywany jako sygnał sprzężenia zwrotnego w systemie sprzężenia zwrotnego jako wewnętrzny sygnał regulacji i napędza skaner, zwykle wykonany z piezoelektrycznych rurek ceramicznych, do poruszania się odpowiednio, aby utrzymać odpowiednią siłę pomiędzy próbką a końcówką igły.
Mikroskopia sił atomowych (AFM) łączy powyższe trzy części, aby przedstawić charakterystykę powierzchni próbki: w systemie AFM mały wspornik służy do wykrywania interakcji pomiędzy końcówką igły a próbką. Siła ta spowoduje kołysanie wspornika, a następnie laser zostanie użyty do naświetlenia końca wspornika. Kiedy powstanie huśtawka, położenie odbitego światła ulegnie zmianie, powodując przesunięcie. W tym momencie detektor laserowy zarejestruje to przesunięcie, a także przekaże systemowi sprzężenia zwrotnego sygnał w tym momencie, aby ułatwić odpowiednią regulację systemu. Na koniec charakterystyka powierzchni próbki zostanie przedstawiona w formie obrazu.
