Jakie są dwie główne składowe siły atomowej wykrywane przez mikroskop sił atomowych?
Istnieją różne siły między sondą AFM a atomami powierzchni próbki, w tym siła van der Waalsa, siła odpychania, siła elektrostatyczna, siła odkształcenia, siła magnetyczna, siła chemiczna itp. Kiedy używany jest mikroskop sił atomowych, wpływ siła van der Waalsa i siła odpychania zostaną wyeliminowane; ponadto, oprócz powyższych dwóch sił, same inne siły są stosunkowo małe.
Dlatego siła atomowa wykrywana przez mikroskop sił atomowych składa się głównie z siły van der Waalsa i siły odpychania. Wśród nich siła van der Waalsa jest przyciąganiem, a istotą siły odpychania jest oddziaływanie między atomami i chmurami elektronów, które jest w istocie efektem kwantowym.
