Jak przetestować układ pamięci za pomocą multimetru
Na płycie głównej i w pamięci znajdują się 64 piny danych, D0-D63. Aby chronić piny bitów danych pamięci, do wszystkich 64 pinów bitów danych D0-D63 dodawany jest rezystor (10 omów) o różnej wartości rezystancji, aby ograniczyć prąd. Główną zasadą testera jest wielokrotne testowanie każdego pinu bitu danych chipa pamięci za pomocą programu, aby sprawdzić, czy piny bitów danych nie są uszkodzone lub zwarte, a także piny zegara i piny adresu chipa.
Zatem podczas testowania chipów za pomocą multimetru można zastosować również metodę testera. Dopóki czerwony długopis jest podłączony do masy (pin 1), a czarny długopis mierzy rezystancję rezystora rozładowującego, czyli rezystancję bitu danych układu pamięci, można go wykorzystać do ustalenia, który chip jest uszkodzony. Zwykle rezystancja każdego bitu danych jest taka sama. Jednak nadal nie jest tak intuicyjny jak tester, który tą metodą może zmierzyć jakość kości pamięci DDR.
Zgodnie z instrukcją obsługi zmierzona pamięć znajduje się w 2A i 2B, co odnosi się do grupy pojedynczej i podwójnej. Istnieją jednak elementy 8 16 bitowe, które odpowiadają dwóm grupom, i 16 8- elementy bitowe, które odpowiadają dwóm grupom.
2A to grupa, 2B to grupa.
Podczas pomiaru piny bitów danych każdego układu w każdej grupie będą cyklicznie testowane. Generalnie jeśli nie pęknie po 3-5 testach to jest dobrze. Dobry chip to PASS. Wadliwy układ wyświetla wadliwe piny bitów danych.
1. Nie można przejść do testu podczas uruchamiania, zwykle z powodu zwarcia chipa lub zwarcia płytki PCB. Rozwiązaniem jest usunięcie chipa i zastąpienie go dobrą płytką PCB, aby przetestować jakość chipa i zobaczyć, na czym polega problem.
2. Tester pamięci nie testuje układów SPD, układy SPD są opcjonalne
3. Jeśli złoty palec się pali, nie można go przetestować. Chip należy wyjąć i umieścić na dobrej płytce PCB, aby sprawdzić jego jakość
