Wprowadzenie do terminologii mikroskopu dla analizatora metalograficznego
Apertura numeryczna
Przysłowa apertura jest głównym parametrem technicznym obiektywu obiektywnego i soczewki skraplacza mikroskopu metalograficznego. Przod numeryczny, skrócony jako Na, jest ważnym wskaźnikiem oceny wydajności obu, szczególnie dla obiektywu obiektywnego. Wielkość jego wartości jest oznaczona odpowiednio na obudowie obiektywu obiektywnego i soczewki skraplacza.
Przysłona numeryczna (Na) jest iloczynem współczynnika załamania światła (N) pożywki między przednią soczewką obiektywu obiektywnego a sprawdzanym obiektem, a połowa sinusiu kąta przysłony (U). Formuła jest następująca: na=nsinu/2
rezolucja
Rozdzielczość mikroskopu metalograficznego odnosi się do niewielkiej odległości między dwoma obiektami, które można wyraźnie odróżnić mikroskopem, znanym również jako szybkość dyskryminacji. Wzór obliczeń to σ=λ/na
W wzorze σ jest * niewielką rozdzielczością; λ to długość fali światła; Na jest aperturą liczbową obiektywu obiektywnego. Rozdzielczość obiektywu obiektywnego jest określana przez dwa czynniki: wartość Na obiektywu obiektywnego i długość fali źródła światła oświetlenia. Im większa wartość Na i krótsza długość fali światła oświetlenia, tym mniejsza wartość σ i wyższa rozdzielczość.
Powiększenie i skuteczne powiększenie
Ze względu na dwa powiększenia obiektywu i okularu obiektywne całkowite powiększenie mikroskopu powinno być iloczynem powiększenia obiektywnego i powiększenia okularu Gamma 1: γ=γ1
Oczywiście, w porównaniu ze szkłem powiększającym, mikroskop może mieć znacznie wyższe powiększenie, a poprzez zamianę obiektywów obiektywnych i okularów o różnych powiększeniach łatwo jest zmienić powiększenie mikroskopu.
Głębokość skupienia
Głębokość ostrości, znana również jako głębokość ogniskowa, odnosi się do możliwości wyraźnego dostrzeżenia nie tylko wszystkich punktów znajdujących się na płaszczyźnie mikroskopu, gdy skupienie jest na obiekcie, ale także w pewnej grubości powyżej i poniżej tej płaszczyzny. Grubość tej wyraźnej części nazywa się głębokością ostrości. Jest to szczególnie ważne w mikroskopach wideo.
Pole widzenia średnicy
Podczas obserwowania mikroskopu widoczny jasny okrągły zakres nazywa się polem widzenia, a jego rozmiar jest określony przez pole widzenia w okularie.
Średnica pola, znana również jako szerokość pola, odnosi się do rzeczywistego zakresu obiektów, które można zakwaterować w okrągłym polu widzenia widocznego pod mikroskopem. Im większe pole widzenia, tym łatwiej jest to obserwować.
Słabe pokrycie
Układ optyczny mikroskopu obejmuje również szkło osłony. Ze względu na nieostandardową grubość szkła pokrywy ścieżka refrakcyjna światła wchodzącego do powietrza ze szkła pokrycia, co powoduje różnicę fazową, która nazywa się różnicą pokrycia. Słaby pokrycie wpływa na jakość dźwięku wytwarzanego przez mikroskop metalograficzny.
odległość pracy
Odległość robocza, znana również jako odległość obiektu, odnosi się do odległości między powierzchnią soczewki przed obiektywem obiektywnym a kontrolowanym obiektem. Podczas kontroli lustra kontrolowany obiekt powinien znajdować się od jednego do dwóch razy większej od ogniskowej obiektywu obiektywnego. Dlatego IT i ogniskowe są dwiema różnymi pojęciami, a powszechnie określane jako ogniskowanie jest w rzeczywistości dostosowanie odległości roboczej mikroskopu metalograficznego.
